ICP-MS、ICP-6800及AA-1800的比較

關(guān)鍵詞：電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀；原子吸收分光光度計；ICP-6800；AA-1800

ICP-AES市場的需求越來越大，在很多的國標里面都有涉及到，應(yīng)用的領(lǐng)域也比較寬廣，很多的實驗工作者在問購買一臺ICP-AES是否是明智之舉，還是留在原來可信賴的AAS上?，F(xiàn)在ICP-MS已呈現(xiàn)在世上，雖然價格較高，但ICP-MS具有ICP-AES的優(yōu)點及比石墨爐原子吸收（GFAAS）更低的檢出限。

下面就讓我們一起解讀一下這三款產(chǎn)品，并指出如何根據(jù)你的實驗需求來判斷其適用性的主要標準。

對于擁有ICP-AES技術(shù)背景的人來講，ICP-MS是一個以質(zhì)譜儀作為檢測器的等離子體（ICP），而質(zhì)譜學(xué)家則認為ICP-MS是一個以ICP為源的質(zhì)譜儀。事實上，ICP-AES和ICP-MS的進樣部分及等離子體是及其相似的。ICP-AES測量的是光學(xué)光譜（165-800nm），ICP-MS測量的是離子質(zhì)譜，提供在3-250amu范圍內(nèi)每一個原子質(zhì)量單位（amu）的信息，因此，ICP-MS除了元素含量測定外，還可測量同位素。

檢出限

ICP-MS的檢出限給人極深刻的印象，其溶液的檢出限大部分為ppt級，石墨爐AAS的檢出限為ppb級；

ICP-AES大部份元素的檢出限為1-10ppb，一些元素在潔凈的試樣中也可得到令人注目的亞ppb級的檢出限。必須指出，ICP-MS的ppt級檢出限是針對溶液中溶解物質(zhì)很少的單純?nèi)芤憾缘模羯婕肮腆w中濃度的檢出限，由于ICP-MS的耐鹽量較差，ICP-MS檢出限的優(yōu)點會變差多達50倍，一些普通的輕元素（如S、 Ca、 Fe 、K、 Se）在ICP-MS中有嚴重的干擾，也將惡化其檢出限。

干擾

以上三種技術(shù)呈現(xiàn)了不同類型及復(fù)雜的干擾問題，為此，我們對每個技術(shù)分別予以討論。

ICP-MS的干擾

1． 質(zhì)譜干擾

ICP-MS中質(zhì)譜的干擾（同量異位素干擾）是預(yù)知的，而且其數(shù)量少于300個，分辯率為0.8amu的質(zhì)譜儀不能將它們分辯開，例如58Ni 對58Fe、 40Ar對40Ca、 40Ar16O對56Fe或40Ar-Ar對80Se的干擾（質(zhì)譜疊加）。元素校正方程式（與ICP-AES中干擾譜線校正相同的原理）可用來進行校正，選擇性地選用一些低自然豐度的同位素、采用“冷等離子體炬焰屏蔽技術(shù)”或“碰撞池技術(shù)”可有效地降低干擾影響。

2． 基體酸干擾

必須指出，HCl 、HClO4、H3PO4和H2SO4將引起相當大的質(zhì)譜干擾。Cl+ 、P+ 、S+離子將與其他基體元素Ar+ 、O+、H+結(jié)合生成多原子，例如35Cl 40Ar對75As 、35Cl

16O對51V的疊加干擾。因此在ICP-MS的許多分析中避免使用HCl 、HClO4 、H3PO4和H2SO4是至關(guān)重要的，但這是不可能的。克服這個問題的方法有：“碰撞池技術(shù)”、在試樣導(dǎo)入ICP之前使用色譜（微栓）分離、電熱蒸發(fā)（ETV）技術(shù)等，另外一個比較昂貴的選擇是使用高分辯率的扇形磁場的ICP-MS，它具有分辯小于0.01amu的能力，可以清除許多質(zhì)譜的干擾。

ICP-MS分析用的試液通常用硝酸來配制。

3．雙電荷離子干擾

雙電荷離子產(chǎn)生的質(zhì)譜干擾是單電荷離子M/Z的一半，例如138Ba2+對69Ga+，或208Pb2+對104Ru+。這類干擾是比較少的，而且可以在進行分析前將系統(tǒng)最佳化而有效地消除。

4． 基體效應(yīng)

試液與標準溶液粘度的差別將改變各個溶液產(chǎn)生氣溶膠的效率，采用基體匹配法或內(nèi)標法可有效地消除。

5． 電離干擾

電離干擾是由于試樣中含有高濃度的第I族和第II族元素而產(chǎn)生的，采用基體匹配、稀釋試樣、標準加入法、同位素稀釋法、萃取或用色譜分離等措施來解決是有效的。

6．空間電荷效應(yīng)

空間電荷效應(yīng)主要發(fā)生在截取錐的后面，在此處的凈電荷密度明顯的偏離了零。高的離子密度導(dǎo)致離子束中的離子之間的相互作用，形成重離子存在時首先損失掉輕離子，例如Pb+對Li+3?；w匹配或仔細在被測物質(zhì)的質(zhì)量范圍內(nèi)選用內(nèi)標有助于補嘗這個影響，但這在實際應(yīng)用是有困難的。同位素稀釋法雖有效，但費用高，簡單而最有效的方法是稀釋樣品。

ICP-AES干擾

1．光譜干擾

ICP-AES的光譜干擾其數(shù)量很大而較難解決，有記錄的ICP-AES的光譜譜線有50000多條，而且基體能引起相當多的問題。因此，對某些樣品例如鋼鐵、化工產(chǎn)品及巖石的分析必須使用高分辯率的光譜儀。廣泛應(yīng)用于固定通道ICP-AES中的干擾元素校正能得到有限度的成功。ICP-AES中的背景較高，需離線背景校正，應(yīng)用動態(tài)背景校正對增進準確度是很有效的。各種分子粒子（如OH）的譜峰或譜帶對某些低含量的被測元素會引起一些分析問題，影響其在實際樣品中檢出限。

在ICP-MS中的背景是相當?shù)偷模湫偷氖切∮?span>5 C/S（計數(shù)/秒），這就是ICP-MS具有極好的檢出限的一個主要理由。

2．基體效應(yīng)

與ICP-MS一樣，ICP-AES可以應(yīng)用內(nèi)標來解決例如霧化室效應(yīng)、試樣與標準溶液之間粘度差異所帶來的基體效應(yīng)。

3．電離干擾

仔細選用每個元素的分析條件或加入電離緩衡劑（如過量的I族元素）可以減少易電離元素的影響。

GFAAS干擾

1．光譜干擾

使用氘燈背景校正的GFAAS有少許光譜干擾，但使用氘燈自吸雙重背景校正的GFAAS能去除這些干擾。

2．背景干擾

在原子化過程中，針對不同的基體，應(yīng)仔細設(shè)定灰化步聚的條件以減少背景信號。采用基體改進劑有助于增加可以容許的灰化溫度。

3．氣相干擾

這是由于被測物質(zhì)的原子蒸汽進入一個較冷的氣體環(huán)境而形成的?，F(xiàn)在采用等溫石墨管設(shè)計和平臺技術(shù)，試樣被原子化后進入一個熱的惰性氣體環(huán)境，可有效減少這種干擾。

4．基體效應(yīng)

基體效應(yīng)是被測物質(zhì)在石墨管上不同的殘留而生成的，它取決于樣品的種類，應(yīng)用基體改性劑和熱注射能十分有效地減少這些影響。

容易使用

在日常工作中，從自動化來講，ICP-AES是最成熟的，可由技術(shù)不熟練的人員來應(yīng)用ICP-AES專家制定的方法進行工作。ICP-MS的操作直到現(xiàn)在仍較為復(fù)雜，自1993年以來，盡管在計算機控制和智能化軟件方面有很大的進步，但在常規(guī)分析前仍需由技術(shù)人員進行精密調(diào)整，ICP-MS的方法研究也是很復(fù)雜及耗時的工作。GFAAS的常規(guī)工作雖然是比較容易的，但制定方法仍需要相當熟練的技術(shù)

試樣中的總固體溶解量TDS

在常規(guī)工作中，ICP-AES可分析10%TDS的溶液，甚至可以高至30%的鹽溶液。在短時期內(nèi)ICP-MS可分析0.5%的溶液，但大部分分析人員樂于采用最多0.2%TDS的溶液。當原始樣品是固體時，與ICP-AES，GFAAS相比，ICP-MS需要更高倍數(shù)的稀釋，其折算到原始固體樣品中的檢出限顯示不出很大優(yōu)勢的現(xiàn)象也就不令人驚奇了。

線性動態(tài)范圍LDR

ICP-MS具有超過105的LDR，各種方法可使其LDR開展至108，但不管如何，對ICP-MS來說：高基體濃度會導(dǎo)致許多問題，而這些問題的最好解決方案是稀釋，正由于這個原因，ICP-MS應(yīng)用的主要領(lǐng)域在痕量/超痕量分析。

GFAAS的LDR限制在102-103，如選用次靈敏線可進行高一些濃度的分析。

ICP-AES具有105以上的LDR且抗鹽份能力強，可進行痕量及主量元素的測定，ICP-AES可測定的濃度高達百分含量，因此，ICP-AES外加ICP-MS，或GFAAS可以很好地滿足實驗室的需要。

精密度

ICP-MS的短期精密度一般是1-3% RSD，這是應(yīng)用多內(nèi)標法在常規(guī)工作中得到的。長期（幾個小時）精密度為小于5%RSD。使用同位素稀釋法可以得到很好的準確度和精密度，但這個方法的費用對常規(guī)分析來講是太貴了。

ICP-AES的短期精密度一般為0.3-2%RSD，幾個小時的長期精密度小于3%RSD。

GFAAS的短期精密度為0.5-5%RSD，長期精密度的因素不在于時間而視石墨管的使用次數(shù)而定。

樣品分析能力

ICP-MS有驚人的能力來分析大量測定痕量元素的樣品，典型的分析時間為每個樣品小于5分鐘，在某些分析情況下只需2分鐘。Consulting實驗室認為ICP-MS的主要優(yōu)點即是其分析能力。

ICP-AES的分析速度取決于是采用全譜直讀型還是單道掃描型，每個樣品所需的時間為2或6分鐘，全譜直讀型較快，一般為2分鐘測定一個樣品。

GFAAS的分析速度為每個樣品中每個元素需3-4分鐘，晚上可以自動工作，這樣保證對樣品的分析能力。

根據(jù)溶液的濃度舉例如下，以參考：

1． 每個樣品測定1-3個元素，元素濃度為亞或低于ppb級，如果被測元素要求能滿足的情況下，GFAAS是最合適的。

2． 每個樣品5-20個元素，含量為亞ppm至%，ICP-AES是最合適的。

3． 每個樣品需測4個以上的元素，在亞ppb及ppb含量，而且樣品的量也相當大，ICP-MS是較合適的。

無人控制操作

ICP-MS，ICP-AES，和GFAAS，由于現(xiàn)代化的自動化設(shè)計以及使用惰性氣體的安全性，可以整夜無人看管工作。

為了高的分析生產(chǎn)，整夜開機工作是可取的。

運行的費用

ICP-MS開機工作的費用要高于ICP-AES，因為ICP-MS的一些部件有一定的使用壽命而且需要更換，這些部件包括了渦輪分子泵、取樣錐和截取錐以及檢測器。對于ICP-MS和ICP-AES來講，霧化器與炬管的壽命是相同的。如果實驗室選用了ICP-AES來取代ICP-MS，那么實驗室最好能配備GFAAS。GFAAS應(yīng)計算其石墨管的費用。在上述三種技術(shù)中Ar氣的費用是一筆相當?shù)念A(yù)算，ICP技術(shù)Ar費用遠高于GFAAS。

基本費用

這是很難于限定的一個項目，因為費用是根據(jù)自動化程度、附件與供應(yīng)商而定的。大概的估計ICP-AES是GFAAS的兩倍，而ICP-MS 是ICP-AES的兩倍。必須注意到附件的配置將打亂費用的估計。另外必須考慮到超痕量分析需要一個干凈的實驗室和超純的化學(xué)試劑，這些的費用不便宜。

附件

由于是快速掃描測定方式，ICP-MS能對多元素模式中的瞬間信號進行測量，這就為大量附件打開了出路，電熱蒸法、激光消蝕、輝光放電及火花消蝕可以免除樣品的溶解過程。有些附件可以將樣品中的基體物質(zhì)進行分離或進行預(yù)富集，例如：氫化法、色譜（高壓液相HPLC，離子色譜，微柱）等技術(shù)。

用色譜來分離的好處在ICP-MS中得到完全的實現(xiàn)，它適合用于環(huán)保，毒理學(xué)，藥品及食品中低濃度的被測物質(zhì)。

雖然ICP-AES也能采用上述的某些附件，但由于這些附件的價格及有限的好處，因此，很少看到它們在ICP-AES的常規(guī)分析中應(yīng)用。

概要

對購買哪一種儀器提出建議是困難的，但根據(jù)你現(xiàn)在及將來工作的需要，回答列表1中的問題，將有助于你作出決定.ICP的優(yōu)點是多元素同時測定，優(yōu)勢在于效率。而原子吸收的優(yōu)點在于石墨爐的檢出限低。

ICP-MS具有非常好的檢出限和線性范圍，可多元素同時測定，但成本高；AAS操作簡單，分析方法成熟，但一個元素一個等，影響分析速度；ICP-AES的檢出限可以說是介于ICP-MS和AAS之間，可進行多元素測定，但成本也比較高。我認為從使用者的角度來看，最主要的是根據(jù)自己的分析目的和實驗室的規(guī)模及人員素質(zhì)情況選擇適合自己用的儀器，而不是說越高檔就越好。比如說，工廠里面的中控實驗室，如果要分析0.0010%到0.5%的銅、鉀、錳等這些元素，那我覺得買一臺火焰原子吸收就足夠了，如果也買一臺ICP-MS，就大材小用了。而有些科研單位、地質(zhì)勘探實驗室，ICP-MS是必需的。

可以看出這些技術(shù)是相互補充的，沒有一種技術(shù)能滿足所有的分析要求，只有某一種技術(shù)稍優(yōu)于另一種技術(shù)的地方。下表是AAS、ICP-AES、ICP-MS三種技術(shù)的分析性能的簡單比較：

表4· ICP-MS、ICP-AES與AAS分析性能的比較